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各種粒度測試方法及優缺點有哪些?
2015年03月18日 發布 分類:粉體入門 點擊量:6781
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(1)篩分法:

優點:簡單、直觀、設備造價低,常用于大于40μm的樣品。

缺點:結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

 

(2)顯微鏡(圖像)法:

優點:簡單、直觀,可進行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于101)的樣品。

缺點:代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無法分析小于1μm的樣品。

 

(3)沉降法(包括重力沉降和離心沉降)

優點:操作漸變,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較廣。

缺點:測試時間較長,操作比較繁瑣。

 

(4)電阻法:

優點:操作簡便,可測顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。

缺點:不適合測量小于0.1μm的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

 

(5)激光法

優點:操作簡便,測試速度快,測試范圍廣,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。

缺點:結果受分布模型影響較大,儀器造價較高,分辨力低。

 

(6)電子顯微鏡法

優點:適合測試超細顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進行形貌和結構分析,缺點:樣品少,代表性差,測量易受人為因素影響,儀器價格昂貴。

 

(7)光阻法:

優點:測試便捷快速,可測液體或氣體中顆粒數,分辨力高。

缺點:不適用粒徑小于1μm樣品,進樣系統比較講究,僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量,對一般粉體用的不多。

 

(8)透氣法:優點:儀器價格低。不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體。缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布;不能測小于5μm細粉。

 

(9)X射線小角散射法:用于納米級顆粒的粒度測量。

 

(10)光子相關譜法(動態光散射法):用于納米級顆粒的粒度測量。


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