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真理光學:納米粒度及Zeta電位儀新品首發
2019年01月25日 發布 分類:企業動態 點擊量:808
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日前,真理光學在其不久前推出納米粒度儀的基礎上增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能,推出了納米粒度及Zeta電位儀新品。


 

Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀

 

隨著國內粉體工業的迅速發展,對于顆粒物性參數的理解和應用也就越多。而Zeta電位測量應用廣泛,是表征膠體分散系穩定性的重要指標,以制藥為例,其對乳劑、混懸劑及脂質體等配方研究必須測量Zeta電位。真理光學此次推出新品,對于關注和需要顆粒表征的領域來說,意味著有了更多選擇;對于真理光學來說,則不僅僅是推出一款新儀器新產品,更意味著產品線的進一步完善,當然也是企業發展進入全新階段的開始。


筆者在粒度儀行業有工作經驗,以上認識正基于此。2010年前后,納米粒度分析系統依然處在國產儀器的真空區;就在不到兩年前,基于動態光散射技術和電泳法的國產納米粒度和zeta電位測量系統才突破國外技術壁壘。中國粉體工業的整體進步,很大程度上要歸功于國產激光粒度儀研發生產商的不斷進取。


以下是Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀 的詳細介紹及參數特點:


Nanolink S900是基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度分析系統,被廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。SZ900S900納米粒度測量功能的基礎上,增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能。


項目

性能指標或描述(右上角標“*”者僅適用于SZ900

測量原理

動態光散射法、電泳法*

粒徑范圍

0.6nm-10μm

準確度

優于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標樣)

重復性

優于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標樣)

最小樣品濃度

0.1mg/ml

最小樣品量

20μl

測量角度

經典90度

溫度控制范圍

0℃-90℃ (120℃選配)

溫度控制精度

±0.1℃

冷凝控制

干燥氣體吹掃

激光器

532nm固體激光器,最大功率50mW, 激光輸出自動可調

激光安全等級

1類

相關器

最小采樣時間25ns, 動態范圍>1011

檢測器

高靈敏度極低暗電流PMT (APD可選)

Zeta電位測量范圍*

-600mW+600mW

樣品最大電導率*

200mS/cm

適用粒徑范圍*

3.5nm100μm

光學系統重量

25kg

光學系統尺寸

578mm x 397mm x 248mm(LxWxH)

注:* 取決于樣品


Nanolink S900納米粒度分析儀技術特點包括:

◆ 經典90°動態光散射技術

◆ 粒徑范圍:0.6nm-10μm

◆ 新一代高速數字相關器,最小采樣時間25ns,動態范圍大于1011

◆ 集成光纖技術的軍品級PMT檢測單元(APD可選)

◆ 532nm 50mW大功率固體激光器,能量輸出自動調節

◆ 溫控范圍0℃-90℃,精度±0.1℃

◆ 冷凝控制-- 干燥氣體吹掃技術

 

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